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應力量測
偏光應力量測
偏光應力量測專家
波色科技引領偏光應力量測技術，採用尖端光學設計與精密數據分析工具，專注於解決多種產業中的應力檢測挑戰。憑藉我們的創新技術，幫助客戶實現更高效、更準確的量測結果。
高解析偏光影像
利用雙折射現象捕捉材料內部應力分布，生成清晰的偏光影像，實現應力大小與方向的準確量測。
相位延遲量測
採用多相位偏光影像分析技術，重建材料的相位延遲分布，提供高靈敏度的應力檢測解決方案。
車用基板應力量測
提供玻璃基板與PMMA射出成型結構的應力檢測服務，解決車用零件的製程品質問題。
TGV製程應力分布
利用高精度偏光影像技術分析TGV製程應力，確保產品結構穩定性與材料強度。
為什麼選擇波色科技？
- ✔ 採用尖端雙折射分析技術，提供準確的應力量測結果。
- ✔ 支援大範圍與低應力材料檢測，靈活應對多樣化需求。
- ✔ 內建高效數據算法，直觀呈現應力分布圖，提升決策效率。
- ✔ 與Apple、TPK、群創等業界領袖合作，深受客戶信賴。
產品介紹
大範圍應力量測
採用高靈敏度的全域式應力量測系統，適合處理大面積材料或結構的應力檢測。結合 多張偏光影像進行相位延遲分布重建，可準確量測應力方向與大小，特別適合玻璃、 軟性電子與太陽能電池的應力量測。
- 快速大面積測量
- 高再現性，適合多次測試比較
- 應用於玻璃切割應力檢測與軟性顯示器
大範圍低應力量測
專為低應力檢測而設計，利用優化光學結構與算法，可精確分析材料內部殘留的微小應力。 該模組適合對透明晶圓、碳化矽等敏感材料進行應力分布與雙折射效應的深入分析。
- 專注於低應力檢測，高靈敏度
- 能夠去除背景應力影響，確保結果精確
- 應用於TGV製程應力分析與PMMA材料檢測
技術優勢
波色科技以先進的偏光應力量測技術，結合高精度設備和數據分析工具，幫助多個產業實現高效、準確的應力檢測解決方案。
雙折射光學原理
利用雙折射現象，將材料內部的應力分解為兩條偏光方向，精準呈現應力方向與大小，是透明與半透明材料檢測的核心技術。
高精度光彈影像
利用偏光影像技術，重建應力分布與光彈效應數據，可用於檢測內部應力及表面缺陷，如透明塑膠手機殼或精密光學元件。
多相位影像重建
採集多張偏光影像，利用相位延遲技術重建應力分布，幫助客戶精確分析材料力學特性並提升生產良率。
偏光數據可視化
創新的數據可視化技術，結合偏光角與偏光度數圖，提供直觀的應力分布與材料特性數據分析。
應用場景
玻璃製造與檢測
偏光應力技術常用於檢測玻璃內部是否有應力集中，以防止材料在使用中出現裂痕或破損，提升產品的可靠性。
光學元件製造
在光學透鏡或高精度光學元件製造中，用於檢測內部應力，確保元件具有穩定的光學性能，滿足高端應用需求。
塑膠製品應力分析
特別是在注塑成型中，檢測殘留應力以改善製程品質，並有效降低產品瑕疵率，適用於各類塑膠材料的加工。