缺陷檢測
輝度分析


一次拍攝整個晶片,加快測試速度 影像輝度校正
可量測輝度均勻性
超高解析度,可辨識死點,亮線等
高解析度,大於3000萬圖元
亮度補償,得到每顆Pixel 輝度

Demura技術觀念
透過波色自行開發的影像輝度計,
取像後透過所開發軟體,進行畫面補償,
轉換為IC demura所需table。

 

波色 MicroLED 檢測方案介紹

影像輝度產品規格

相機分辨率:

9344*7000px,65MP

6464*4852px,31.4MP

2448*2048px,5MP
支援客製化鏡頭 16mm/25mm/50mm/顯微鏡頭。輝度範圍:0.1~2,000nits 與高亮度範圍。

影像輝度產品

Pixel 坐標定位

針對不同 Pixel 排列型態開發位置演算,並可支援面板多種類型。

Pixel 坐標定位

全畫面取像

自動判斷曝光時間,避免局部區域亮度過暗或過曝

自動擷取正確量測區域,搜尋亮區邊緣,自動排除非亮區進行分析

軟件功能

軟件功能-取像

調整旋轉影像歪斜部分,避免對位歪斜所造成問題,提高定位精度。

像素輝度量測功能,找出每個subpixel並計算對應亮度值。

支援各種subpixel排列設定,像素位置定義,多子像素。

像素輝度量測

檢測缺陷功能

  • 找出subpixel過亮點/過暗點 (設定輝度值或全區平均值)
  • 可分別針對不同subpixel設定排列型態。
  • 可分別針對不同subpixel設定過亮點/過暗點閥值。
  • 發光像素面積分析
  • 像素顏色分辨。
  • 大區域缺陷檢測。
  • 不同顏色位置像素同亮。
  • LED誤植判斷。
檢測缺陷功能

標示缺點

大區域連續像素缺點可抓出。

B圓形邊緣缺點可抓出。

亮度異常可抓出(過亮或過暗)。

發光像素分析
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