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LMK 螢幕光度法
KMP
- 特點
- 用於 F&E 和 EOL 的快速 LID 測量。
介紹
KMP 是將間接光測量技術經濟高效地引入空間有限的場所的解決方案。其輕巧緊湊的設計可以集成到生產線中，放置在生產旁邊或小型照明實驗室中。得益於集成的LMK，它可以提供發光強度、照度或色度座標作為測量結果。對於研發或更大的測量對象，我們的產品範圍內有BV室。
元件
為了確保您的KMP完全適應您的需求和規格，我們提供廣泛的服務：
- 光度校準（光強度以cd為單位，照度以lx為單位，光通量以lm為單位，亮度以cd/m²為單位）
- 幾何校準（球面座標系以°為單位，公制座標系以毫米為單位）
- 選擇合適的前透鏡
- 維護和支援
| 基本技術數據 | |
|---|---|
| 被測器件的尺寸 | 汽車：< 120 毫米 機場：< 190毫米1 |
| 典型測量距離 | 汽車：25米 – ∞ 機場：25米 – ∞ |
| 物件欄位 | 汽車：±24°，垂直±15° 機場：±22°;垂直 ±15° |
| 解析度 | 汽車： ≥ 0.01° 機場： ≥ 0.1° |
| 測量範圍 | 汽車：0.3 cd – 50 mcd 機場：5 cd – 10 mcd |
| 可測量的對比度2 | 汽車：1：10 000 機場：1：100 |
| 測量時間 | 汽車：秒 機場：秒 |
| 尺寸 | 汽車：980 毫米 × 850 毫米 × 650 毫米（長 × 寬 × 高） 機場：980 毫米 × 850 毫米 × 650 毫米（長 × 寬 × 高） |
| 1根據測量任務和前透鏡，可以測量較大的物體。 2CIE244：2021 f25 |
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