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光譜儀
Neo 高階光譜儀 VIS
Admesy Neo SeriesNeo高階光譜儀
VIS 360 - 940 nm
本光譜輻射計具備優於 5 nm 的半高寬(FWHM),符合 CIE 國際照明委員會建議之規範(CIE 122-1996),確保在不同產業間進行色彩量測時具備一致性與高可靠度的標準依據。

Neo VIS 光譜輻射計具備高階性能、卓越的操作便利性與堅固耐用的結構,同時提供極具競爭力的價格。
針對可見光波段的量測應用,Neo VIS 可搭配鏡頭、餘弦修正器,以及高強度工業級連接器與光纖,滿足各類嚴苛環境下的專業需求。
產品亮點
技術規格
軟體支援
應用洞察
- 採用堅固的工業級連接介面,支援 SMA 與 FC/PC 端子
- 高光通量設計,提升光學效率
- 初始校準具備波長與輻亮度/照度之 PTB 可追溯性
- 極低雜散光,確保高準確性
- 優異線性表現,內部補償誤差控制於 1% 以內
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光譜範圍 | 360 nm - 940 nm |
雜散光抑制比 | 約 0.05 % |
波長精度 | ± 0.06 nm |
訊雜比 (SNR) | > 1300:1 |
半高寬(FWHM) | 4.1 nm 或更佳 |
積分時間 | 1.6 毫秒 – 60 分鐘 |
韌體 | Neo |
使用手冊 | Neo |
軟體支援 | 適用於 Windows 與 macOS 的 Neo 套件 |
應用備忘 | 選擇光譜儀或色度計作為顯示器量測工具 |
關於 Admesy

世界級技術
不論是查看最新統計資料或傳訊息,我們的技術廣泛應用於知名品牌的螢幕、顯示器、LED 應用及消費性電子產品的生產中。目前產品線包含光譜輻射計、色度計、光度計與 2D 影像色度計。

歐洲製造
我們的總部位於荷蘭南部,鄰近歐洲高科技重鎮愛因霍芬,擁有研發與生產設施及高規格無塵室,隨時可滿足您的需求。同時在歐洲與亞洲設有辦公室,並擁有全球代理網絡,能迅速接觸並服務全球客戶。

卓越人才
我們持續跟進最新標準與規範,協助業界即時應對挑戰。不論是大規模還是小規模應用,我們皆展現出服務能力與彈性,能針對客戶在生產線與研發實驗室中的特定量測需求提供最佳配置。