DeMURA的目標是校正基於生產的圖元到圖元亮度和色度的變化。

OLED、MicroLED 和 LED 等現代單像素發射器顯示器存在與生產相關的變化。亮度和色度可以從圖元到圖元局部變化，導致高頻不均勻性，全域導致低頻不均勻性。為了校正這些影響，需要測量單個子圖元的亮度數據。特別是在生產環境中，週期時間應盡可能短。


根據APR的幾何配準模式摘錄，然後是DeMURA測試測量模式，在三個不同的灰度級別上

APR大大提高了DeMURA測量過程的效率。APR不需要為每個灰度和顏色通道捕獲多個圖像，而是只需要對每個測試的灰度或顏色通道進行一次測量。因此，DeMURA數據的測量速度可以快得多，或者每個顏色通道的灰度水準要高得多。APR 的最快方法是我們的單次圖元配準 （SPR），它可以在特定條件下用於生產。此處，僅在設置生產控制時需要註冊模式。